Skip navigation

Browsing by Author Tsyrelchuk, N. I.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 4 of 4
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Software for evaluating the electronic safety system reliability in case of large volume of data about its technical conditions availabilityDzik, S. S.; Tsyrelchuk, N. I.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, I. N.; Dzik, S. К.; Zhidiliaeva, N. I.; Дик, С. С.; Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Дик, С. К.; Жидиляева, Н. И.
2017Software for predicting the reliability of the electronic system by its technical states set analysis methodTsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, I. N.; Kaziuchyts, V. O.; Zhidiliaeva, N. I.; Shneiderov, E. N.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Казючиц, В. О.; Жидиляева, Н. И.; Шнейдеров, Е. Н.
2018Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборов.Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Shneiderov, E. N.
2018Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборовБоровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Shneiderov, E. N.