Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10116
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШнейдеров, Е. Н.-
dc.contributor.authorБурак, И. А.-
dc.contributor.authorБудник, А. В.-
dc.date.accessioned2016-11-18T08:37:02Z-
dc.date.accessioned2017-07-19T11:59:48Z-
dc.date.available2016-11-18T08:37:02Z-
dc.date.available2017-07-19T11:59:48Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationШнейдеров, Е. Н. Математические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров, И. А. Бурак, А. В. Будник // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХIV Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск 25–26 мая 2016 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2016. – С. 75.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10116-
dc.description.abstractРассмотрен и систематизирован способ получения математической модели деградации функционального параметра ИЭТ на основе нормального закона распределения функционального параметра для выборки ИЭТ.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцииru_RU
dc.subjectизделия электронной техникиru_RU
dc.titleМатематические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техникиru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:ТСЗИ 2016

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shneyderov_Matematicheskiye.PDF659.6 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.