| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Плебанович, В. И. | - |
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Будник, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-11-19T07:42:35Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T11:59:48Z | - |
| dc.date.available | 2016-11-19T07:42:35Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T11:59:48Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Плебанович, В. И. Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания / В. И. Плебанович, С. М. Боровиков, А. В. Будник // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХIV Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск 25–26 мая 2016 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2016. – С. 67–68. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10131 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференции | ru_RU |
| dc.subject | EEPROM | ru_RU |
| dc.subject | МОП-транзистор | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.title | Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2016
|
