| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Титович, Н. А. | - |
| dc.contributor.author | Теслюк, В. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-11-24T09:43:35Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T12:23:19Z | - |
| dc.date.available | 2016-11-24T09:43:35Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T12:23:19Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Титович, Н. А. Критерии оценки восприимчивости радиоэлектронных устройств к воздействию электромагнитных помех / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк // Современные средства связи : материалы XX Международной научно-технической конференции, Минск, 14-15 октября 2015 года. – Минск : Высший государственный колледж связи, 2015. – С. 97–99. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10257 | - |
| dc.description.abstract | Проанализированы результаты исследований влияния высокочастотных помех на работу транзисторов и микросхем. Предложены критерии оценки их восприимчивости. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Высший государственный колледж связи | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитные помехи | ru_RU |
| dc.subject | транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | восприимчивость | ru_RU |
| dc.title | Критерии оценки восприимчивости радиоэлектронных устройств к воздействию электромагнитных помех | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | The results of studies of the effect of high-frequency interference in the work of transistors and microchips. Criteria of evaluation of their susceptibility. | - |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
