Анализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ

Чернякова, К. В.; Карпич, Р.; Врублевский, И. А.

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Чернякова, К. В.	-
dc.contributor.author	Карпич, Р.	-
dc.contributor.author	Врублевский, И. А.	-
dc.date.accessioned	2016-12-21T13:01:26Z	-
dc.date.accessioned	2017-07-27T12:29:17Z	-
dc.date.available	2016-12-21T13:01:26Z	-
dc.date.available	2017-07-27T12:29:17Z	-
dc.date.issued	2016	-
dc.identifier.citation	Чернякова, К. В. Анализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ / К. В. Чернякова, Р. Карпич, И. А. Врублевский // IV Международная научная конференция «Проблемы взаимодействия излучения с веществом», посвященная 90-летию со дня рождения Б.В. Бокутя, 9–11 ноября 2016 г. : [материалы] в 2 частях. Ч. 2 / редкол. : С.А.Хахомов (гл. ред.) [и др.]. – Гомель : ГГУ им.Ф.Скорины, 2016. – С. 181 – 186.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10940	-
dc.description.abstract	Показано, что программа ImageJ для анализа микроизображений является подходящим инструментом для количественного анализа морфологии поверхности пленок анодного оксида алюминия с наноразмерными порами. Результаты обработки в программе ImageJ позволили рассчитать значение среднего диаметра пор пленок анодного оксида алюминия, полученного в водном растворе щавелевой кислоты.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	ГГУ им.Ф.Скорины	ru_RU
dc.subject	публикации ученых	ru_RU
dc.subject	анализ изображений	ru_RU
dc.subject	анодный оксид алюминия	ru_RU
dc.subject	наноразмерные поры	ru_RU
dc.subject	ImageJ	ru_RU
dc.title	Анализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU
Appears in Collections:	Публикации в изданиях Республики Беларусь