Skip navigation
DSpace logo
  1. Репозиторий БГУИР
  2. Материалы конференций и семинаров
  3. Медэлектроника
  4. Медэлектроника - 2015
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11683
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШнейдеров, Е. Н.-
dc.contributor.authorБурак, И. А.-
dc.contributor.authorГилимович, Д. С.-
dc.contributor.authorБоровиков, С. М.-
dc.date.accessioned2017-02-07T12:30:53Z-
dc.date.accessioned2017-07-17T12:47:36Z-
dc.date.available2017-02-07T12:30:53Z-
dc.date.available2017-07-17T12:47:36Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationЭкспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров [и др.] // Медэлектроника – 2015. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сборник научных статей IX Международная научно-техническая конференция, Минск, 4 – 5 декабря 2015 г. – Минск : БГУИР, 2015. – С. 193–195.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11683-
dc.description.abstractThe authors describe the procedure for the organization accelerated the forced tests used for functional parameters degradation of electronic devices. We consider the established test facility and the appointment of its main parts.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectэлектронная техникаru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.titleЭкспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техникиru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Медэлектроника - 2015

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shneyderov_Eksperimentalnoye.PDF995.82 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.