Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12303
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБутько, В. Б.-
dc.date.accessioned2017-03-21T13:23:04Z
dc.date.accessioned2017-07-20T12:16:38Z-
dc.date.available2017-03-21T13:23:04Z
dc.date.available2017-07-20T12:16:38Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationБутько, В. Б. Оценка качества и применимости микроэлектронных изделий по результатам измерений промежуточных и финишных характеристик : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-41 80 03 / В. Б. Бутько ; науч. рук. Ю. А. Родионов. - Минск : БГУИР, 2016. - 7 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12303-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectмикроэлектронные изделияru_RU
dc.subjectпромежуточные характеристикиru_RU
dc.subjectфинишные характеристикиru_RU
dc.subjectэлектронная аппаратураru_RU
dc.titleОценка качества и применимости микроэлектронных изделий по результатам измерений промежуточных и финишных характеристикru_RU
dc.typeAbstract of the thesisru_RU
Appears in Collections:1-41 80 03 Нанотехнологии и наноматериалы (в электронике)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Butko_Ocenka.pdf344.28 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.