| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.contributor.author | Плебанович, В. И. | - |
| dc.contributor.author | Бересневич, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Бурак, И. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-04-13T11:26:33Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:38:06Z | - |
| dc.date.available | 2017-04-13T11:26:33Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-13T06:38:06Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники / С. М. Боровиков [ и др.] // Доклады БГУИР. - 2017. - № 2 (104). - С. 45 - 52. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12595 | - |
| dc.description.abstract | С помощью ускоренных испытаний получены экспериментальные данные о деградации
функциональных параметров трех типов транзисторов большой мощности как представителей изделий
электронной техники. По экспериментальным данным построены гистограммы распределения
параметров. Установлено, что нормальный закон распределения с течением наработки деформируется и
для выборок изделий плохо описывает деградацию параметров. Результаты деградации функциональных
параметров использованы для решения задач группового и индивидуального прогнозирования
надежности транзисторов с учетом постепенных отказов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | изделия электронной техники | ru_RU |
| dc.subject | транзистор | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.subject | деградация параметров | ru_RU |
| dc.subject | ускоренное испытание | ru_RU |
| dc.subject | electronic product | ru_RU |
| dc.subject | transistor | ru_RU |
| dc.subject | reliability | ru_RU |
| dc.subject | degradation of parameters | ru_RU |
| dc.subject | accelerated test | ru_RU |
| dc.title | Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники | ru_RU |
| dc.title.alternative | Experimental research of electronic products degradation | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.type | Book | ru_RU |
| local.description.annotation | With the help of accelerated tests we have obtained experimental data about the degradation of the
functional parameters of three types of high-power transistors as the representatives of electronic products.
Histograms of parameters’ distribution were constructed on the experimental data. It was found that the normal
distribution law is deformed during the operation time and it poorly describe the parameters degradation for
samples of products. The results of the degradation of the functional parameters are used for solving problems of
group and individual forecasting of reliability of transistors taking into account the gradual failures. | - |
| Appears in Collections: | №2 (104)
|
