Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12858
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДегалевич, Д. А.-
dc.date.accessioned2017-05-15T12:59:20Z
dc.date.accessioned2017-07-20T12:02:38Z-
dc.date.available2017-05-15T12:59:20Z
dc.date.available2017-07-20T12:02:38Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationДегалевич, Д. А. Техническая диагностика полупроводниковых приборов на устойчивость к воздействию электростатических разрядов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1-39 81 01 / Д. А. Дегалевич ; науч. рук. Г. А. Пискун. - Минск : БГУИР, 2017. - 16 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12858-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectэлектростатические разрядыru_RU
dc.subjectтехническая диагностикаru_RU
dc.titleТехническая диагностика полупроводниковых приборов на устойчивость к воздействию электростатических разрядовru_RU
dc.typeAbstract of the thesisru_RU
Appears in Collections:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Degalevich_Tehn.pdf890.3 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.