DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Дегалевич, Д. А. | - |
dc.date.accessioned | 2017-05-15T12:59:20Z | |
dc.date.accessioned | 2017-07-20T12:02:38Z | - |
dc.date.available | 2017-05-15T12:59:20Z | |
dc.date.available | 2017-07-20T12:02:38Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Дегалевич, Д. А. Техническая диагностика полупроводниковых приборов на устойчивость к воздействию электростатических разрядов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1-39 81 01 / Д. А. Дегалевич ; науч. рук. Г. А. Пискун. - Минск : БГУИР, 2017. - 16 с. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12858 | - |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
dc.subject | техническая диагностика | ru_RU |
dc.title | Техническая диагностика полупроводниковых приборов на устойчивость к воздействию электростатических разрядов | ru_RU |
dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем
|