| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Брылева, О. А. | - |
| dc.contributor.author | Piskun, G. A. | - |
| dc.contributor.author | Alexeev, V. F. | - |
| dc.contributor.author | Bryleva, V. A. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-07T12:09:21Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T11:59:59Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-07T12:09:21Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T11:59:59Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Пискун Г. А. Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - №2 (39). - С. 130-137. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13157 | - |
| dc.description.abstract | Проведен анализ методов контроля работоспособности микроконтроллеров в условиях воздействия разрядов статического электричества. Рассмотрены три базовых метода параметрического тестирования, базирующихся на особенностях формы и длительности действия электростатических разрядов. Приведены обязательные параметры электронных компонентов, входящих в состав установок по имитации разрядов. Представлен наиболее часто используемый способ функционального тестирования микроконтроллеров, основанный на считывании и анализе инсталлированного массива данных из памяти микросхемы. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллер | ru_RU |
| dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
| dc.subject | диагностика | ru_RU |
| dc.subject | параметрическое тестирование | ru_RU |
| dc.subject | microcontroller | ru_RU |
| dc.subject | static discharge | ru_RU |
| dc.subject | diagnosis | ru_RU |
| dc.subject | parametric testing | ru_RU |
| dc.title | Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Methods of technical diagnostics microcontrollers with electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | The analysis methods of control performance microcontrollers in conditions of static electricity. We have considered three basic methods of parametric test, based on the characteristics of the shape and duration of electrostatic charges. Mandatory parameters are electronic components that make up the plants to simulate discharges. Contains the most commonly used method of functional testing of microcontrollers based on the reading and analysis of installed array of data from memory chips. | - |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
