| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-07T12:40:20Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T11:59:59Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-07T12:40:20Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T11:59:59Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Пискун, Г. А. Планирование эксперимента по выявлению изменений в программном обеспечении микроконтроллеров с flash-памятью при воздействии электростатического разряда / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. – № 6. – 2013. – С. 139– 145 | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13164 | - |
| dc.description.abstract | Представлен новый подход к планированию эксперимента по технической диагностике микроконтроллеров с инсталлированным во встроенную flash-память программным обеспечением после воздействия электростатического разряда. Впервые предложен алгоритм, основанный на анализе целостности хранящегося во flash-памяти массива данных с применением специализированных хеш-функций. Показано, что предложенный алгоритм позволяет выявить потенциально ненадежные микроконтроллеры на стадии программирования. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Гомельский государственный университет им. Франциска Скорины | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллеры | ru_RU |
| dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
| dc.subject | хеш-функция | ru_RU |
| dc.subject | microcontrollers | ru_RU |
| dc.subject | static discharge | ru_RU |
| dc.subject | hash function | ru_RU |
| dc.title | Планирование эксперимента по выявлению изменений в программном обеспечении микроконтроллеров с flash-памятью при воздействии электростатического разряда | ru_RU |
| dc.title.alternative | Planning an experiment to detect changes in the software of microcontrollers with flash memory when exposed to an electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | A new approach to the planning of the experiment for technical diagnostics microcontroller with installed in the built-in flash-memory software after effects of electrostatic discharge. First proposed an algorithm based on the analysis of the integrity of the stored in flash-memory dataset using specialized hash functions. It is shown that the proposed algorithm can detect potentially unreliable microcontrollers programming phase. | - |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
