| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-07T12:47:49Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T12:00:00Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-07T12:47:49Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T12:00:00Z | - |
| dc.date.issued | 2012 | - |
| dc.identifier.citation | Пискун, Г. А. Методика оценки устойчивости микроконтроллеров К воздействию разрядов статического электричества при ступенчатом повышении напряжения / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев // Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. - 2012. - № 40. - С. 34-40. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13165 | - |
| dc.description.abstract | Экспериментально исследовано воздействие разрядов статического электричества на 8-ми битные микроконтроллеры типа AT89C51RC с 32-мя Кб flash-памяти. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,4 кВ, приведет к повреждению 94 % информации, инсталлированной во flash-память, а 6,5 кВ приведет к катастрофическому повреждению микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Рязанский государственный радиотехнический университет | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллер | ru_RU |
| dc.subject | разряд статического электричества | ru_RU |
| dc.subject | метод контактного разряда | ru_RU |
| dc.subject | метод испытания | ru_RU |
| dc.title | Методика оценки устойчивости микроконтроллеров К воздействию разрядов статического электричества при ступенчатом повышении напряжения | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
