| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-29T06:53:50Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T12:23:23Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-29T06:53:50Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T12:23:23Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Алексеев, В. Ф. Совершенствование математической модели расчёта надежности КМОП СБИС с учетом особенностей воздействия электростатического разряда / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун // Технологии электромагнитной совместимости. - 2016. - № 1 (56). - С. 49 - 54. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13461 | - |
| dc.description.abstract | Исследована специфика влияния разрядов статического электричества на современные полупроводниковые приборы. Установлено, что в существующей математической модели расчета интенсивности отказов СБИС не учитывается тип воздействующего разряда. Высказано предположение о целесообразности введения в данный расчет поправочного коэффициента, учитывающего тип воздействия электростатического разряда на наружный вывод микросхемы. Экспериментально подтверждено, что усовершенствование существующей математической модели позволит более точно осуществлять оценку надежности КМОП СБИС. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ООО «Издательский дом «ТЕХНОЛОГИИ» | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | интенсивность отказов | ru_RU |
| dc.subject | КМОП СБИС | ru_RU |
| dc.subject | математическая модель | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.title | Совершенствование математической модели расчёта надежности КМОП СБИС с учетом особенностей воздействия электростатического разряда | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
