DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Врабий, Э. М. | - |
dc.contributor.author | Дегалевич, Д. А. | - |
dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
dc.date.accessioned | 2017-06-29T07:23:40Z | - |
dc.date.accessioned | 2017-07-27T12:23:24Z | - |
dc.date.available | 2017-06-29T07:23:40Z | - |
dc.date.available | 2017-07-27T12:23:24Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности / Э. М. Врабий [и др.] // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2015. - № 7 (18-1). - С. 228 - 232. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13465 | - |
dc.description.abstract | Изучаются причины повреждения металлизации интегральных схем (ИС) в условиях воздействия токов повышенной плотности, которые характерны для разрядов статического электричества. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г. Ф. Морозова (ВГЛТУ) | ru_RU |
dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
dc.subject | повреждение | ru_RU |
dc.subject | отказ | ru_RU |
dc.subject | металлизация | ru_RU |
dc.subject | электродиффузия | ru_RU |
dc.subject | надежность | ru_RU |
dc.title | Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|