| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Дегалевич, Д. А. | - |
| dc.contributor.author | Врабий, Э. М. | - |
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-29T07:28:28Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T12:27:06Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-29T07:28:28Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T12:27:06Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Специфика использования методов неразрушающего диагностического контроля полупроводниковых изделий после воздействия электростатических разрядов / Д. А. Дегалевич [и др.] // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2015. - № 7 (18-1). - С. 342 - 346. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13466 | - |
| dc.description.abstract | Изучаются требования к методам неразрушающего контроля полупроводниковых изделий (ППИ) и критерии для прогнозирования надежности по внезапным и параметрическим отказам на примере интегральных схем (ИС). | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г. Ф. Морозова (ВГЛТУ) | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые изделия | ru_RU |
| dc.subject | технологические отбраковочные испытания | ru_RU |
| dc.title | Специфика использования методов неразрушающего диагностического контроля полупроводниковых изделий после воздействия электростатических разрядов | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
