| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Пикулик, А. Н. | - |
| dc.contributor.author | Врабий, Э. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-29T07:51:35Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-27T12:27:06Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-29T07:51:35Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-27T12:27:06Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Совершенствование алгоритма испытаний микропроцессорной техники на устойчивость к воздействию разрядов статического электричества / Г. А. Пискун [и др.] // Стандартизация. - 2016. - № 2. - С. 52 - 58. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13468 | - |
| dc.description.abstract | В статье предложен новый подход к проведению испытаний микропроцессорной техники на устойчивость в воздействию электростатических разрядов. Обоснована целесообразность введения в алгоритм проведении испытаний дополнительной операции, направленной на контроль выполняемых функций посредством анализа записанного во встроенную flash-память микроконтроллера программного кода. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БелГИСС | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | микропроцессорная техника | ru_RU |
| dc.subject | программный код | ru_RU |
| dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
| dc.subject | microprocessor technology | ru_RU |
| dc.subject | program code | ru_RU |
| dc.subject | electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.title | Совершенствование алгоритма испытаний микропроцессорной техники на устойчивость к воздействию разрядов статического электричества | ru_RU |
| dc.title.alternative | Improvement of the algorithm for testing microprocessor equipment for resistance to the results of discharges of static electricity | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | The article proposes a new approach to the testing of microprocessor technology of resistance to electrostatic discharges. There was proved the expediency of the introduction of the test algorithm of further operation aimed at control of the functions performed by analyzing the code, recorded in the build-in flash-memory of the microcontrollers. | - |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
