| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Губчик, И. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-11-20T13:18:02Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:07:19Z | - |
| dc.date.available | 2014-11-20T13:18:02Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-13T06:07:19Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Губчик, И. Н. Калибровка системы, предназначенной для контроля проводников на подложке микросхемы = Calibration of the system used for conductor inspection at microchip substrate / И. Н. Губчик // Доклады БГУИР. – 2013. – № 6 (76). – С. 92–97. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1591 | - |
| dc.description.abstract | Описывается методика калибровки фотометрической системы для решения конкретной задачи оценки положения проводника, соединяющего полупроводниковую микросхему с подложкой. Строится нелинейная модель дисторсии объектива камеры, позволяющая оценить положение проводника в трехмерном пространстве с заданной точностью. Новизна описанной методики заключается в обеспечении поставленной точности измерений параметров проводника с высокой скоростью обработки. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | калибровка камеры | ru_RU |
| dc.subject | точность калибровки | ru_RU |
| dc.subject | трехмерная сцена | ru_RU |
| dc.title | Калибровка системы, предназначенной для контроля проводников на подложке микросхемы | ru_RU |
| dc.title.alternative | Calibration of the system used for conductor inspection at microchip substrate | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №6 (76)
|
