DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
dc.date.accessioned | 2014-11-20T13:54:28Z | - |
dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:07:20Z | - |
dc.date.available | 2014-11-20T13:54:28Z | - |
dc.date.available | 2017-07-13T06:07:20Z | - |
dc.date.issued | 2013 | - |
dc.identifier.citation | Боровиков, С. М. Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий / С. М. Боровиков // Доклады БГУИР. - 2013. - № 6 (76). - С. 12 - 18. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595 | - |
dc.description.abstract | Систематизирован метод имитационных воздействий в применении к индивидуальному
прогнозированию постепенных отказов изделий электронной техники. На основе метода
разработана методика прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов.
Она позволяет по реакции функционального параметра конкретного экземпляра
(транзистора) на имитационное воздействие в начальный момент времени спрогнозировать
значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности
этого экземпляра по постепенному отказу для этой наработки. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
dc.subject | изделия электронной техники | ru_RU |
dc.subject | биполярные транзисторы | ru_RU |
dc.subject | метод имитационных воздействий | ru_RU |
dc.subject | индивидуальное прогнозирование значений параметра | ru_RU |
dc.subject | прогнозирование постепенных отказов | ru_RU |
dc.title | Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий | ru_RU |
dc.title.alternative | Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Appears in Collections: | №6 (76)
|