| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Силков, Н. И. | - |
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Пикулик, А. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-12-05T08:36:24Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-12T11:45:14Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-05T08:36:24Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-12T11:45:14Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам = Test of microcontrollers for sensitivity to the electrostatic category / В. Ф. Алексеев [и др.] // Доклады БГУИР. – 2011. – № 5 (59). – С. 5–11. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1980 | - |
| dc.description.abstract | Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | микроконтроллер | ru_RU |
| dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
| dc.subject | метод контактного разряда | ru_RU |
| dc.subject | метод испытания | ru_RU |
| dc.title | Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам | ru_RU |
| dc.title.alternative | Test of microcontrollers for sensitivity to the electrostatic category | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №5 (59)
|
