| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Белоус, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Прибыльский, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-12-10T11:06:55Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-12T11:53:01Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-10T11:06:55Z | |
| dc.date.available | 2017-07-12T11:53:01Z | - |
| dc.date.issued | 2012 | - |
| dc.identifier.citation | Белоус, А. И. Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2012. - № 7 (69). - С. 60 - 63. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123 | - |
| dc.description.abstract | Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | скрытый дефект | ru_RU |
| dc.subject | эксплуатационная надежность | ru_RU |
| dc.subject | интегральная схема | ru_RU |
| dc.subject | отбраковка | ru_RU |
| dc.subject | выходной контроль | ru_RU |
| dc.title | Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам | ru_RU |
| dc.title.alternative | Convolutional neural model in a task of classification images of the iso- lated digits | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №7 (69)
|
