Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27273
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТитович, Н. А.-
dc.contributor.authorТеслюк, В. Н.-
dc.date.accessioned2017-10-30T08:38:19Z-
dc.date.available2017-10-30T08:38:19Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationТитович, Н. А. Исследование влияния электромагнитных помех на работоспособность многовыходовых микросхем / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк // Современные средства связи : материалы XXII Международной научно-технической конференции, Минск, 19-20 октября 2017 г. – Минск, 2017. – С. 238-240.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27273-
dc.description.abstractПроанализированы результаты исследований влияния высокочастотных помех на работу многовыходовых микросхем.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБелорусская государственная академия связиru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectэлектромагнитные помехиru_RU
dc.subjectмикросхемыru_RU
dc.subjectвосприимчивостьru_RU
dc.titleИсследование влияния электромагнитных помех на работоспособность многовыходовых микросхемru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
issledovanie..pdf471.05 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.