Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27857
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛанин, В. Л.-
dc.date.accessioned2017-11-16T11:55:46Z-
dc.date.available2017-11-16T11:55:46Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.citationЛанин, В. Л. Оценка паяемости электронных компонентов и деталей в электронике / В. Л. Ланин // Компоненты и технологии. – 2008. – № 2. – С. 150 – 154.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27857-
dc.description.abstractПроблема обеспечения качественных паяных соединений при сборке и монтаже изделий электроники обращает внимание на использование эффективных методов контроля паяемости электронных компонентов и функциональных покрытий деталей. Методы должны обеспечивать наименьшее время контроля, высокую достоверность, возможности автоматизации контроля и анализа результатов.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherООО «Медиа КиТ» Санкт-Петербургru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectпаяемостьru_RU
dc.subjectэлектронные компонентыru_RU
dc.subjectдеталиru_RU
dc.subjectэлектроникаru_RU
dc.titleОценка паяемости электронных компонентов и деталей в электроникеru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Lanin_Otsenka.pdf400.69 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.