| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Руденко, М. В. | - |
| dc.contributor.author | Хорошко, Л. С. | - |
| dc.contributor.author | Гапоненко, Н. В. | - |
| dc.contributor.author | Мудрый, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Райченок, Т. Ф. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-12-01T07:42:36Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-01T07:42:36Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Люминесценция эрбия в тонких пленках TiO2 и SrTiO3 / М. В. Руденко [и др.] // Доклады БГУИР. - 2017. - № 7 (109). - С. 88 - 92. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28204 | - |
| dc.description.abstract | Золь-гель методом синтезированы тонкие пленки диоксида титана и титаната стронция,
легированные эрбием, на кварцевом стекле, монокристаллическом кремнии и структуре пористый
анодный оксид алюминия/кремний. Исследованы морфология поверхности и оптические свойства
пленок. В спектрах фотолюминесценции тонких пленок наблюдается интенсивная полоса с максимумом
в области ~1,53 мкм, обусловленная внутрицентровыми электронными переходами (4I13/2→4I15/2) на
трехвалентных ионах эрбия. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | люминесценция | ru_RU |
| dc.subject | эрбий | ru_RU |
| dc.subject | титанат стронция | ru_RU |
| dc.subject | диоксид титана | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | золь-гель метод | ru_RU |
| dc.subject | luminescence | ru_RU |
| dc.subject | erbium | ru_RU |
| dc.subject | strontium titanate | ru_RU |
| dc.subject | titania | ru_RU |
| dc.subject | thin films | ru_RU |
| dc.subject | sol-gel method | ru_RU |
| dc.title | Люминесценция эрбия в тонких пленках TiO2 и SrTiO3 | ru_RU |
| dc.title.alternative | Erbium luminescence in the TiO2 and SrTiO3 thin films | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | Erbium doped titania and strontium titanate thin films were synthesized by the sol-gel method on the
quartz glass, monocrystalline silicon and porous anodic alumina/silicon structures. Morphology of the surface
and optical properties of the films were investigated. Luminescence spectra of the thin films show an intense
band at 1.53 µm corresponding to the electronic transitions (4I13/2→4I15/2) of the erbium trivalent ions. | - |
| Appears in Collections: | №7 (109)
|
