| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Троицкий, В. Ю. | - |
| dc.contributor.author | Орешков, М. В. | - |
| dc.contributor.author | Захарченко, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Трепалин, А. П. | - |
| dc.contributor.author | Петлицкая, Т. В. | - |
| dc.contributor.author | Филипеня, В. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-12-21T07:09:42Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-21T07:09:42Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т / В. Ю. Троицкий и др. // Труды научно-исследовательского института системных исследований российской академии наук. – 2016г. – №2(6). – С.88 – 95. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818 | - |
| dc.description.abstract | Разработана и успешно опробована методика поэтапного исследования физико-технологических причин неработоспособности кристаллов интегральной микросхемы (ИМС) Ethernet контроллера 1990ВГ3Т с применением неразрушающих и разрушающих методов: - локализации дефектов по результатам функционального тестирования и регистрации фотоэмиссии, - послойного удаления слоёв металлизации, - нанозондирования электрофизических характеристик транзисторных структур, - исследования локализованной области на ионно-электронном микроскопе. Получены важные результаты, раскрывающие технологическую причину неработоспособности ИМС. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Российская академия наук | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | анализ брака | ru_RU |
| dc.subject | локализация дефектов | ru_RU |
| dc.title | Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
