| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Мрозек, И. | - |
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-01-03T09:46:20Z | - |
| dc.date.available | 2018-01-03T09:46:20Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – №2(54). – С. 58 – 69. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28950 | - |
| dc.description.abstract | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ОИПИ НАН Беларуси | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | динамические оперативные запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | маршевый тест | ru_RU |
| dc.subject | псевдоисчерпывающий тест | ru_RU |
| dc.title | Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
