Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/29312
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТретьяк, В. Д.-
dc.date.accessioned2018-01-17T07:00:25Z-
dc.date.available2018-01-17T07:00:25Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationТретьяк, В. Д. Ускоренная оценка качества микросхем по результатам физико-технической экспертизы : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1-39 81 01 / В. Д. Третьяк ; науч. рук. В. Ф. Алексеев. - Минск : БГУИР, 2017. - 15 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/29312-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectкачество микросхемru_RU
dc.subjectфизико-техническая экспертизаru_RU
dc.titleУскоренная оценка качества микросхем по результатам физико-технической экспертизыru_RU
dc.typeАвторефератru_RU
Располагается в коллекциях:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Tretyak.pdf658.61 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.