Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/29536
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМіцюхін, А. І.-
dc.date.accessioned2018-01-29T12:09:47Z-
dc.date.available2018-01-29T12:09:47Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationМіцюхін, А. І. Павышэнне надзейнасці біяметрычнай сістэмы / А. І. Міцюхін // Матеріали вісімнадцятої міжнародної наукової конференції імені академіка Михайла Кравчука 7—10 жовтня 2017 року, Луцьк — Київ. - Київ : НТУУ «КПІ», 2017. – Т. 2. - C. 124–126.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/29536-
dc.description.abstractДля павышэння дакладнасных характарыстык біяметрычнай сістэмы прапануецца ўвесці дадатковы этап апрацоўкі фрагмента выявы адбітка. Разглядаецца апрацоўка выяў адбіткаў на грунце эфектыўнага статыстычнага алгарытму з выкарыстаннем уласных функцый.ru_RU
dc.language.isobyru_RU
dc.publisherНТУУ «КПІ»ru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectбіяметрычны параметрru_RU
dc.subjectідэнтыфікацыяru_RU
dc.subjectпазнанне дэскрыптарыru_RU
dc.subjectуласныя функцыіru_RU
dc.subjectкаварыяцыйня матрыцаru_RU
dc.titleПавышэнне надзейнасці біяметрычнай сістэмыru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Mіtsyukhіn_Pavyshenne.PDF855.92 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.