Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30299
| Title: | Исследование механизмов отказов микросхем в условиях воздействия дестабилизирующих факторов |
| Authors: | Пансевич, С. А. |
| Keywords: | авторефераты диссертаций;механизмы отказов микросхем;дестабилизирующие факторы |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Пансевич, С. А. Исследование механизмов отказов микросхем в условиях воздействия дестабилизирующих факторов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1–38 80 04 / С. А. Пансевич ; науч. рук. Т. В. Петлицкая. - Минск : БГУИР, 2018. - 16 с. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30299 |
| Appears in Collections: | 1-38 80 04 Технология приборостроения
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
