Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30307
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПетровский, Е. В.-
dc.date.accessioned2018-03-05T12:06:03Z-
dc.date.available2018-03-05T12:06:03Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationПетровский, Е. В. Диагностика интегральных микросхем методом послойного анализа : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1-39 81 01 / Е. В. Петровский ; науч. рук. Т. В. Петлицкая. - Минск : БГУИР, 2018 . - 16 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30307-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.subjectпослойный анализru_RU
dc.titleДиагностика интегральных микросхем методом послойного анализаru_RU
dc.typeАвторефератru_RU
Appears in Collections:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
m_avt_Petrovskii.pdf641.56 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.