DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Петровский, Е. В. | - |
dc.date.accessioned | 2018-03-05T12:06:03Z | - |
dc.date.available | 2018-03-05T12:06:03Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.citation | Петровский, Е. В. Диагностика интегральных микросхем методом послойного анализа : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1-39 81 01 / Е. В. Петровский ; науч. рук. Т. В. Петлицкая. - Минск : БГУИР, 2018 . - 16 с. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30307 | - |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
dc.subject | послойный анализ | ru_RU |
dc.title | Диагностика интегральных микросхем методом послойного анализа | ru_RU |
dc.type | Автореферат | ru_RU |
Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем
|