Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30430
Название: Фототок в структурах кремний/титанат стронция/никель
Другие названия: Photocurrent in the structures of silicon / strontium titanate / nickel
Авторы: Холов, П. А.
Гапоненко, Н. В.
Голосов, Д. А.
Завадский, С. М.
Колосницын, Б. С.
Иванов, В. А.
Колос, В. В.
Ключевые слова: доклады БГУИР;золь-гель метод;титанат стронция;фототок;sol-gel method;strontium titanate;photocurrent
Дата публикации: 2018
Издательство: БГУИР
Описание: Фототок в структурах кремний/титанат стронция/никель / П. А. Холов и другие // Доклады БГУИР. - 2018. - № 1 (111). - С. 19 - 24.
Аннотация: Золь-гель методом синтезированы пленки титаната стронция SrTiO3 (ксерогель титаната стронция) на подложках монокристаллического кремния при температуре термообработки 750 °С. Методом магнетронного распыления сформированы верхние электроды из никеля и измерены вольт- амперные характеристики сформированных структур. Обнаружен фототок при освещении структуры кремний/титанат стронция/никель галогенной лампой, а также переключение из низкоомного состояния в высокоомное при напряжении около 10 В как при освещении, так и без него.
Аннотация на другом языке: The SrTiO3 (strontium titanate xerogel) films were fabricated on the substrates of monocrystalline silicon using the sol-gel method at the annealing temperature 750 °С. The upper nickel electrodes were fabricated using the magnetron sputtering, and the volt-amperic characteristics of the obtained structures were measured. Photocurrent was observed from the structure silicon/strontium titanate/nickel under illumination with the halogen lamp, as well as switching from low resistance state to high resistance state under and without illumination.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30430
Располагается в коллекциях:№1 (111)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Kholov_Fototok.PDF1.27 MBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.