| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Мурашко, И. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-02T12:53:28Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-02T12:53:28Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | - |
| dc.identifier.citation | Мурашко, И. А. Минимизация энергопотребления генератора псевдослучайных тестовых наборов для встроенного самотестирования = Power minimization PTPG for the built-in self-testing / И. А. Мурашко // Доклады БГУИР. – 2004. – № 4 (8). – С. 108–114. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30810 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрены вопросы снижения энергопотребления генератора псевдослучайных тестовых
наборов для встроенного самотестирования цифровых устройств. Предложена новая структура генератора, который позволяет формировать тестовые воздействия при меньших энергетических затратах. Основная идея предлагаемого подхода заключается в применении триггеров Т-типа вместо традиционных триггеров D-типа. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | встроенное самотестирование | ru_RU |
| dc.subject | минимизация потребления энергии | ru_RU |
| dc.subject | псевдослучайная последовательность | ru_RU |
| dc.subject | сканирование | ru_RU |
| dc.title | Минимизация энергопотребления генератора псевдослучайных тестовых наборов для встроенного самотестирования | ru_RU |
| dc.title.alternative | Power minimization PTPG for the built-in self-testing | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | Power minimizations of pseudorandom test pattern generator for built-in self-test are considered. The new structure of the generator that allows forming test stimuli at smaller power expenses is
offered. The basic idea consists in replacement of D-flip-flops by the T- flip-flops. | - |
| Appears in Collections: | №4 (8)
|
