Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30880
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorИваненко, Л. И.-
dc.date.accessioned2018-04-06T08:26:18Z-
dc.date.available2018-04-06T08:26:18Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.citationИваненко, Л. И. Термоэлектрические свойства полупроводниковых силицидов = Thermoelectric properties of semiconducting silicides / Л. И. Иваненко // Доклады БГУИР. – 2005. – № 2 (10). – С. 90–101.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30880-
dc.description.abstractОбсуждаются результаты последних исследований термоэлектрических свойств полупроводниковых силицидов рения, железа и рутения. Поликристаллические и эпитаксиальные силицидные пленки были получены методом магнетронного распыления и реактивным осаждением. Монокристаллы силицидов рения ReSi1,.75 и рутения Ru2Si3 выращивали методом зонной плавки с применением оптического нагрева; монокристаллы дисилицида железа β-FeSi2 были получены в процессе химических транспортных реакций. В качестве легирующих добавок использовали хром, кобальт, марганец, никель и алюминий. Температурные зависимости удельного сопротивления, коэффициента Зеебека (термоЭДС) и теплопроводности силицидов были измерены в интервале 4,2−1070 К. На основании полученных данных предложены рекомендации по практическому использованию полупроводниковых силицидов в термоэлектричестве.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectсилицидыru_RU
dc.subjectренийru_RU
dc.subjectжелезоru_RU
dc.subjectрутенийru_RU
dc.subjectтермоэлектрические свойстваru_RU
dc.titleТермоэлектрические свойства полупроводниковых силицидовru_RU
dc.title.alternativeThermoelectric properties of semiconducting silicidesru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
local.description.annotationThe review summarizes recent results on transport properties of semiconducting silicides of rhenium, iron and ruthenium. The experimental data both for thin films and single crystals are presented. Polycrystalline and epitaxial films were prepared by magnetron sputtering and by reactive deposition epitaxy. The ReSi1.75 and Ru2Si3 single crystals were grown by the zone melting technique with radiation heating; the β-FeSi2 single crystals were formed by chemical vapor transport. Cr, Co, Mn, Ni, Al were added as dopants. Electrical resistivity, Seebeck coefficient (thermopower) and thermal conductivity of the silicides were measured in the temperature range from 4.2 to 1070 K. Prospects of practical applications of semiconducting silicides in thermoelectrics are discussed.-
Appears in Collections:№2 (10)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ivanenko_Thermoelectric.pdf485.89 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.