| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Занкович, А. П. | - |
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-10T13:26:40Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-10T13:26:40Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Занкович, А. П. Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ / А. П. Занкович, В. Н. Ярмолик // Доклады БГУИР. - 2005. - № 3 (11). - С. 65 - 70. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30941 | - |
| dc.description.abstract | В статье представлены локально-симметричные методы периодического неразрушающего
тестирования схем ОЗУ. Приведена оценка эффективности использования предлагаемых
методов в сравнении с существующими методами Николаидиса и глобально-
симметричными методами. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающее тестирование ОЗУ | ru_RU |
| dc.subject | маршевые тесты | ru_RU |
| dc.subject | условия скрытия и проявления ошибок | ru_RU |
| dc.subject | симметричное тестирование | ru_RU |
| dc.title | Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ | ru_RU |
| dc.title.alternative | Symmetric transparent memory testing | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №3 (11)
|
