Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item:
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorОбразцов, Н. С.-
dc.contributor.authorМакаревич, С. Ю.-
dc.identifier.citationОбразцов, Н. С. Исследование термостойкости микрополосковых линий при действии термоциклов и термоудара / Н. С. Образцов, С. Ю. Макаревич // Доклады БГУИР. - 2003. - № 2. - С. 107 - 112.ru_RU
dc.description.abstractОписываются механизмы, приводящие к деградации электрофизических параметров микрополосковых линий при их ускоренных испытаниях на термостойкость. Предложена математическая модель изменения емкости микрополосковой линии под воздеиствием термоциклирования и термоудара.ru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectмикрополосковые линииru_RU
dc.subjectускоренные испытанияru_RU
dc.titleИсследование термостойкости микрополосковых линий при действии термоциклов и термоудараru_RU
dc.title.alternativeResearch of a microstrips thermostability at an operation of temperature shock and temperature cyclingru_RU
local.description.annotationThe mechanisms of physical properties degradation at accelerated tests of microstrips on a thermostability, under an operation of varying temperature are featured. The mathematical model of change of a microstrip's capacity under an operation of a temperature cycling and thermal shock is offered.-
Appears in Collections:№2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Obraztsov_Impulsnyye.pdf397.23 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.