| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Бересневич, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Хмыль, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Емельянов, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Цырельчук, И. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-18T06:44:59Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-18T06:44:59Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.citation | Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики = Reliability prediction of products of electronics by a method of the threshold logic / С. М. Боровиков [и др.] // Доклады БГУИР. – 2006. – № 2 (14). – С. 49–56. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31015 | - |
| dc.description.abstract | Предлагается метод прогнозирования надежности изделий электронной техники по информативным параметрам. Отличительной особенностью метода является то, что значения информативных параметров, полученные при измерении в начальный момент времени, преобразуются в двоичные сигналы (в нуль или единицу) и решение о классе изделия с точки зрения его надежности на заданный интересующий момент времени принимается по набору двоичных сигналов. Обсуждаются некоторые подходы к определению порогов, необходимых для преобразования информативных параметров в двоичные сигналы. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | изделия электронной техники | ru_RU |
| dc.subject | информативные параметры | ru_RU |
| dc.subject | прогнозирование надежности с разделением на классы | ru_RU |
| dc.subject | прогнозирующее правило | ru_RU |
| dc.subject | пороговая логика | ru_RU |
| dc.title | Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики | ru_RU |
| dc.title.alternative | Reliability prediction of products of electronics by a method of the threshold logic | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The method of forecasting reliability of electronic devices by informative parameters is suggested. A specific feature of the method lies in the fact that informative parameters’ values obtained in measuring at the initial moment of time are transformed into binary signals (0 or 1) and the decision on the device’s class — from the point of view of its reliability for given moment of interest — is taken on the basis of binary signals’ set. Some approaches to the definition of thresholds necessary for transformation of informative parameters into binary signals are discussed. | - |
| Appears in Collections: | №2 (14)
|
