Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31134
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВечер, Д. В.-
dc.contributor.authorПилипенко, В. А.-
dc.contributor.authorГорушко, В. А.-
dc.contributor.authorСякерский, В. С.-
dc.contributor.authorПетлицкая, Т. В.-
dc.date.accessioned2018-04-23T08:08:21Z-
dc.date.available2018-04-23T08:08:21Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.citationУстановка лазерного геттерирования кремниевых пластин / Д. В. Вечер и др. // Доклады БГУИР. - 2007. - № 1 (17). - С. 109 - 114.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31134-
dc.description.abstractПредставлены результаты по разработке установки лазерного геттерирования кремниевых пластин большого диаметра. Приведены данные по выбору источника излучения, разработке системы сканирования и контроля за процессом лазерной обработки, а также обоснованию режима лазерного воздействия с целью геттерирования точечных дефектов и загрязняющих примесей.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectлазерru_RU
dc.subjectгеттерированиеru_RU
dc.subjectсканированиеru_RU
dc.subjectконтрольru_RU
dc.titleУстановка лазерного геттерирования кремниевых пластинru_RU
dc.title.alternativeLaser gettering unit for silicon wafersru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
local.description.annotationThe results are offered on the design development of the laser gettering unit for the large diameter wafers. The data are provided on choice selection of the radiation source, development of the scan and control system for the laser treatment processing, as well as substantiation of the laser effect mode for the purpose of the point defects and impurities gettering.-
Appears in Collections:№1 (17)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Vecher_Laser.pdf693.81 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.