| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Черных, А. Г. | - |
| dc.contributor.author | Шульгов, В. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-06-12T06:19:50Z | - |
| dc.date.available | 2018-06-12T06:19:50Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Черных, А. Г. Электромиграционные процессы в межсоединениях интегральных микросхем / А. Г. Черных, В. В. Шульгов // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVI Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 5 июня 2018 г. – Минск: БГУИР, 2017. – С. 97. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31907 | - |
| dc.description.abstract | Информационная безопасность требует совершенствования элементной базы
микроэлектронных устройств защиты информации. По мере уменьшения размеров
и совершенствования структуры микроэлектронных устройств возрастает роль многоуровневой
системы межсоединений интегральных микросхем (ИМС) и основным ограничительным
фактором в системе межсоединений является электромиграционная стойкость. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | информационная безопасность | ru_RU |
| dc.title | Электромиграционные процессы в межсоединениях интегральных микросхем | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2018
|
