| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Кохно, П. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-02-19T13:30:02Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-20T12:08:24Z | - |
| dc.date.available | 2015-02-19T13:30:02Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-20T12:08:24Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Кохно, П. М. Разработка методов и алгоритмов тестирования оперативных запоминающих устройств : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-40 80 05 / П. М. Кохно ; науч. рук. В. Н. Ярмолик. - Минск : БГУИР, 2015. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3207 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты | ru_RU |
| dc.subject | алгоритмы тестирования | ru_RU |
| dc.subject | оперативные запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.title | Разработка методов и алгоритмов тестирования оперативных запоминающих устройств | ru_RU |
| dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
| Appears in Collections: | 1-40 80 05 Программная инженерия
|
