| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Петрович, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Бондаренко, В. П. | - |
| dc.contributor.author | Долгий, А. Л. | - |
| dc.contributor.author | Редько, С. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-08-28T07:15:08Z | - |
| dc.date.available | 2018-08-28T07:15:08Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Различные типы структур антипрожигаемых перемычек для программируемых пользователем вентильных матриц и постоянных запоминающих устройств = Various anti-fuse structures for field programmable gate arrays and programmable read-only memories / В. А. Петрович [и др.] // Доклады БГУИР. – 2018. – № 5 (115). – С. 38–43. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32731 | - |
| dc.description.abstract | Использование антипрожигаемых перемычек в качестве программируемых элементов
становится все более популярным в программируемых пользователем вентильных матрицах
и программируемых постоянных запоминающих устройствах. В работе обсуждаются характеристики
различных структур антипрожигаемых перемычек, а также компромисс между производительностью
и надежностью. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | антипрожигаемая перемычка | ru_RU |
| dc.subject | программируемая пользователем вентильная матрица | ru_RU |
| dc.subject | программируемое постоянное запоминающее устройство | ru_RU |
| dc.subject | anti-fuse | ru_RU |
| dc.subject | field programmable gate array | ru_RU |
| dc.subject | programmable read-only memory | ru_RU |
| dc.title | Различные типы структур антипрожигаемых перемычек для программируемых пользователем вентильных матриц и постоянных запоминающих устройств | ru_RU |
| dc.title.alternative | Various anti-fuse structures for field programmable gate arrays and programmable read-only memories | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The use of anti-fuses as programmable elements is becoming popular in field programmable gate
arrays and programmable read-only memories. The characteristics of various structures of anti-fuses
and compromise between performance and reliability will be discussed in this paper. | - |
| Appears in Collections: | №5 (115)
|
