| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Моковский, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Горчанин, Д. И. | - |
| dc.contributor.author | Володин, И. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-09-03T09:29:40Z | - |
| dc.date.available | 2018-09-03T09:29:40Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Моковский, В. А. Стандартные методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов / В. А. Моковский, Д. И. Горчанин, И. А. Володин // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем: сборник тезисов 54 научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. Раднёнок А. Л. – Минск, 2018. – С. 81 - 83. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32774 | - |
| dc.description.abstract | Несмотря на постоянное повышение энергетической эффективности современной электроники, другой важной
тенденцией ее развития является уменьшение габаритов изделий. Происходит как уменьшение размеров всех составляющих
электронных компонентов, так и внедрение новых технологий более плотного их монтажа. Это приводит к увеличению
плотности потоков тепло, повышению локальной и средней температуры. Указанные обстоятельства заставляют более
углубленно заниматься изучением методов измерения теплового сопротивления в полупроводниковых приборах. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | тепловое сопротивление | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.title | Стандартные методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)
|
