Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВилюха, Ю. Е.-
dc.date.accessioned2018-09-06T09:12:17Z-
dc.date.available2018-09-06T09:12:17Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationВилюха, Ю. Е. Оценка надежности полупроводниковых приборов / Ю. Е. Вилюха // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем: сборник тезисов 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. Раднёнок А. Л. – Минск, 2018. – С. 44.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828-
dc.description.abstractВ работе рассматривается подход к оценке надёжности полупроводниковых приборов на основе использования результатов ускоренных испытаний.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectоценка надежностиru_RU
dc.titleОценка надежности полупроводниковых приборовru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Vilyukha_Otsenka.pdf575.06 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.