| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Мусин, С. Б. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-10-05T09:45:10Z | - |
| dc.date.available | 2018-10-05T09:45:10Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Иванюк, А. А. Анализ итеративного алгоритма неразрушающего тестирования ОЗУ / А. А. Иванюк, С. Б. Мусин // Доклады БГУИР. - 2010. - № 1 (47). - С. 90 - 94. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33139 | - |
| dc.description.abstract | На каждой итерации исследуемого алгоритма неразрушающего тестирования оперативных
запоминающих устройств (ОЗУ) инвертируются ячейки с адресами, выделенными по маске,
которая формируется исходя из номера итерации алгоритма. Для сжатия тестовых реакций
используется метод адаптивного сигнатурного анализа. В качестве целевых неисправностей
определены многократные константные неисправности ОЗУ. Показано, что обнаруживающая способность повышается с увеличением итераций алгоритма. Определена формула вычисления верхней границы обнаруживающей способности и предельного количества итераций. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | ОЗУ | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающее тестирование | ru_RU |
| dc.subject | адаптивный сигнатурный анализ | ru_RU |
| dc.title | Анализ итеративного алгоритма неразрушающего тестирования ОЗУ | ru_RU |
| dc.title.alternative | Estimation of iterative algorithm for transparent RAM testing | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №1 (47)
|
