| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Автушко, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-10-16T07:47:51Z | - |
| dc.date.available | 2018-10-16T07:47:51Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Иванюк, А. А. Методы оптимизации микрокода встроенной аппаратуры самотестирования ОЗУ / А. А. Иванюк, А. А. Автушко // Доклады БГУИР. - 2010. - № 3 (49). - С. 104 - 110. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33210 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются способы проектирования встроенной программируемой аппаратуры самотестирования оперативных запоминающих устройств, основанной на разрушающих маршевых тестах, а также методы оптимизации микрокода, кодирующего маршевые тесты, с целью его минимизации для сокращения аппаратурных затрат на память микропрограмм и
увеличения скорости передачи тестов по последовательным интерфейсам. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | оперативное запоминающее устройство | ru_RU |
| dc.subject | маршевый тест | ru_RU |
| dc.subject | встроенное самотестирование | ru_RU |
| dc.subject | конечный цифровой автомат | ru_RU |
| dc.subject | микропрограммное управление | ru_RU |
| dc.title | Методы оптимизации микрокода встроенной аппаратуры самотестирования ОЗУ | ru_RU |
| dc.title.alternative | Methods of microcode optimization for embedded memory build-in self-test | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | Methods of designing programmable build-in self-test architectures for embedded memories
based on March tests are described. A new method of March test coding for programmable memory
build-in self-test architectures allowing reducing hardware overheads and speed-up tests transferring
over serial interfaces is offered. | - |
| Appears in Collections: | №3 (49)
|
