DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
dc.contributor.author | Мрозек, И. | - |
dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
dc.date.accessioned | 2018-10-23T10:47:04Z | - |
dc.date.available | 2018-10-23T10:47:04Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.citation | Ярмолик, В. Н. Псевдо-исчерпывающие тестирование запоминающих устройств на базе многократных многократных маршевых тестов / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2018. – Т. 15, №1. – С. 110 – 121. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33247 | - |
dc.description.abstract | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается
обоснованность применения псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тесто в запоминающих устройств с изменяемым начальным состоянием сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки средней, минимальной и максимальной кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек запоминающего устройства. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается возможность псевдо-исчерпывающего тестирования запоминающих устройств. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | ОИПИ Национальной академии наук Белруси | ru_RU |
dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
dc.subject | маршевые тесты | ru_RU |
dc.subject | псевдо-исчерпывающие тесты | ru_RU |
dc.subject | задача собирателя купонов | ru_RU |
dc.title | Псевдо-исчерпывающие тестирование запоминающих устройств на базе многократных многократных маршевых тестов | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|