| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Степанов, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-02-26T12:45:49Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T08:25:12Z | - |
| dc.date.available | 2015-02-26T12:45:49Z | |
| dc.date.available | 2017-07-19T08:25:12Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Степанов, А. В. Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ / А. В. Степанов, А. А. Иванюк // Информационные технологии и системы 2011 (ИТС 2011) : материалы международной научной конференции, БГУИР, Минск, Беларусь, 26 октября 2011 г. = Information Technologies and Systems 2011 (ITS 2011) : Proceeding of The International Conference, BSUIR, Minsk, 26th October 2011 / редкол.: Л. Ю. Шилин [и другие]. – Минск : БГУИР, 2011. – C. 284-285. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-488-816-3 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3365 | - |
| dc.description.abstract | В данной работе предложена методика
обнаружения функциональных неисправностей
интерфейсных линий встроенных ОЗУ, которая позволит выполнять тестирование цифрового устройства на наличие физических дефектов проводящих линий в процессе его эксплуатации по назначению. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | оперативные запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | неисправности интерфейсных линий | ru_RU |
| dc.subject | VHDL | ru_RU |
| dc.subject | тестирование цифровых устройств | ru_RU |
| dc.subject | встроенные ОЗУ | ru_RU |
| dc.subject | ОЗУ | ru_RU |
| dc.title | Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2011
|
