Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33700
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМаклюк, В. В.-
dc.contributor.authorБожко, Р. А.-
dc.contributor.authorАлексеев, В. Ф.-
dc.contributor.authorСавосько, А. Н.-
dc.contributor.authorЭль-Хадад Весам Мохамед-
dc.coverage.spatialМинск-
dc.coverage.spatialМинск-
dc.date.accessioned2018-12-04T13:24:12Z-
dc.date.available2018-12-04T13:24:12Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationАнализ физико-химических процессов, определяющих отказы интегральных схем / В. В. Маклюк и другие // Инженерный вестник. – 2006. – №1(21)/3. –С. 229 – 234.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33700-
dc.description.abstractПоказано, что отказ любого технического изделия, в том числе интегральной схемы, может быть определен действием взаимозависимых факторов. Рассмотрены основные виды, причины и механизмы отказов полупроводниковых ИС. Установлены дефекты изготовления и причины их появления в ИС.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБелорусская инженерная академияru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectфизико-химические процессыru_RU
dc.subjectинтегральные схемыru_RU
dc.titleАнализ физико-химических процессов, определяющих отказы интегральных схемru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Maklyuk_Analiz.PDF440.28 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.