DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Маклюк, В. В. | - |
dc.contributor.author | Божко, Р. А. | - |
dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
dc.contributor.author | Савосько, А. Н. | - |
dc.contributor.author | Эль-Хадад Весам Мохамед | - |
dc.coverage.spatial | Минск | - |
dc.coverage.spatial | Минск | - |
dc.date.accessioned | 2018-12-04T13:24:12Z | - |
dc.date.available | 2018-12-04T13:24:12Z | - |
dc.date.issued | 2006 | - |
dc.identifier.citation | Анализ физико-химических процессов, определяющих отказы интегральных схем / В. В. Маклюк и другие // Инженерный вестник. – 2006. – №1(21)/3. –С. 229 – 234. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33700 | - |
dc.description.abstract | Показано, что отказ любого технического изделия, в том числе интегральной схемы, может быть определен действием взаимозависимых факторов. Рассмотрены основные виды, причины и механизмы отказов полупроводниковых ИС. Установлены дефекты изготовления и причины их появления в ИС. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Белорусская инженерная академия | ru_RU |
dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
dc.subject | физико-химические процессы | ru_RU |
dc.subject | интегральные схемы | ru_RU |
dc.title | Анализ физико-химических процессов, определяющих отказы интегральных схем | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|