Моделирование процессов развития и взаимодействия неустойчивостей в релятивистском электронном потоке при изменении толщины пучка

Abstract

Представлены результаты анализа развития и взаимодействия бурсиановской и диокотронной неустойчивостей в кольцевом релятивистском электронном потоке, распространяющемся в цилиндрической камере дрейфа, в зависимости от толщины пучка и величины внешнего однородного магнитного поля. Обнаружено, что взаимодействие неустойчивостей приводит к образованию виртуального катода со сложной вращающейся спиралевидной структурой с несколькими областями отражения (электронными сгустками) в азимутальном направлении. Аналитически и численно показано, что уменьшение толщины пучка приводит к увеличению количества электронных сгустков в азимутальном направлении. Выявлена сложная зависимость количества формирующихся в азимутальном направлении электронных сгустков от величины внешнего магнитного поля.