Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСолодуха, В. А.-
dc.contributor.authorШведов, С. В.-
dc.contributor.authorКовальчук, Н. С.-
dc.contributor.authorЧигирь, Г. Г.-
dc.contributor.authorПетлицкий, А. Н.-
dc.date.accessioned2019-01-30T13:51:50Z-
dc.date.available2019-01-30T13:51:50Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationЭкспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки / В. А. Солодуха [и др.] // Современные информационные и электронные технологии: сборник трудов 19-ой Международной научно-практической конференции (СИЭТ-2018), Одесса, 28 мая - 01 июня 2018 г. - Одесса, 2018. - С. 81 - 82.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333-
dc.description.abstractПредложена модель оценки показателей надежности подзатворных диэлектриков по результатам испытаний тестовых МДП-структур путем подачи на затвор ступенчато-нарастающего напряжения до фиксации момента пробоя структуры при разных скоростях развертки. На основе модели реализован экспрессный контроль для оперативного выявления потенциально ненадежной продукции и поддержания серийного производства интегральных микросхем на требуемом уровне.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherИздательский центр «Политехпериодика», Украинаru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectподзатворный диэлектрикru_RU
dc.subjectпробивное напряжениеru_RU
dc.subjectнадежностьru_RU
dc.titleЭкспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях разверткиru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Solodukha_Ekspressniy.pdf220.53 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.