| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Солодуха, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Шведов, С. В. | - |
| dc.contributor.author | Ковальчук, Н. С. | - |
| dc.contributor.author | Чигирь, Г. Г. | - |
| dc.contributor.author | Петлицкий, А. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-01-30T13:51:50Z | - |
| dc.date.available | 2019-01-30T13:51:50Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки / В. А. Солодуха [и др.] // Современные информационные и электронные технологии: сборник трудов 19-ой Международной научно-практической конференции (СИЭТ-2018), Одесса, 28 мая - 01 июня 2018 г. - Одесса, 2018. - С. 81 - 82. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333 | - |
| dc.description.abstract | Предложена модель оценки показателей надежности подзатворных диэлектриков по результатам испытаний тестовых МДП-структур путем подачи на затвор ступенчато-нарастающего напряжения до фиксации момента пробоя структуры при разных скоростях развертки. На основе модели реализован экспрессный контроль для оперативного выявления потенциально ненадежной продукции и поддержания серийного производства интегральных микросхем на требуемом уровне. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Издательский центр «Политехпериодика» | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | подзатворный диэлектрик | ru_RU |
| dc.subject | пробивное напряжение | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.title | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
