| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ланин, В. Л. | - |
| dc.contributor.author | Волкенштейн, С. С. | - |
| dc.contributor.author | Хмыль, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-03-11T09:00:48Z | - |
| dc.date.available | 2019-03-11T09:00:48Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Ланин, В. Л. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / В. Л. Ланин, С. С. Волкенштейн, А. А. Хмыль // Компоненты и технологии. – 2010. – № 2. – С. 137–142. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34610 | - |
| dc.description.abstract | Проблема обеспечения качества и надежности изделий электро-ники нацеливает на использова-ние эффективных методов кон-троля и диагностики скрытых дефектов, которые должны обеспечивать высокую информативность, достоверность и автоматизацию анализа результатов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ООО «Медиа КиТ» | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающий контроль | ru_RU |
| dc.subject | диагностика | ru_RU |
| dc.subject | скрытые дефекты | ru_RU |
| dc.subject | изделия электроники | ru_RU |
| dc.title | Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
