Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorНгуен, А. Т.-
dc.contributor.authorЦветков, В. Ю.-
dc.contributor.authorTsviatkou, V. Y.-
dc.date.accessioned2019-03-25T07:12:56Z-
dc.date.available2019-03-25T07:12:56Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationНгуен, А. Т. Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок / А. Т. Нгуен, В. Ю. Цветков // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : сборник материалов V Международной научно-практической конференции, Минск, 13–14 марта 2019 г. В 2 ч. Ч. 2 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2019. – С. 150 – 156.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842-
dc.description.abstractПредложен алгоритм поиска экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок. Показано, что алгоритм позволяет обнаруживать не только однопиксельные но и многопиксельные экстремумы.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectпоиск локальных экстремумовru_RU
dc.subjectвыращиваемые маскиru_RU
dc.subjectвыращивание областейru_RU
dc.titleПоиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масокru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Nguyen_Poisk.PDF780.7 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.