| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Нгуен, А. Т. | - |
| dc.contributor.author | Цветков, В. Ю. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-03-25T07:12:56Z | - |
| dc.date.available | 2019-03-25T07:12:56Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Нгуен, А. Т. Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок / А. Т. Нгуен, В. Ю. Цветков // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : сборник материалов V Международной научно-практической конференции, Минск, 13–14 марта 2019 г. В 2 ч. Ч. 2 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2019. – С. 150 – 156. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842 | - |
| dc.description.abstract | Предложен алгоритм поиска экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок. Показано, что алгоритм позволяет обнаруживать не только однопиксельные но и
многопиксельные экстремумы. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | поиск локальных экстремумов | ru_RU |
| dc.subject | выращиваемые маски | ru_RU |
| dc.subject | выращивание областей | ru_RU |
| dc.title | Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : материалы конференции (2019)
|
